发明名称 Test socket
摘要 본 발명은 전기적 검사소켓에 대한 것으로서, 더욱 상세하게는 피검사 디바이스의 단자를 검사장치의 패드에 전기적으로 접속시키기 위한 전기적 검사 소켓에 있어서, 피검사 디바이스가 삽입되는 삽입공이 중앙에 마련되며 상하이동가능한 커버부재; 상기 커버부재의 하측에 배치되고 상기 삽입공과 대응되는 위치에 수용공이 마련되며 검사장치 측에 설치되는 베이스부재; 상기 베이스부재와 상기 커버부재에 각각 연결되어 상기 커버부재의 상승 및 하강에 따라서 상기 베이스부재에 대하여 회전운동함으로서 상기 수용공을 개방 및 폐쇄하는 래칫수단; 및 상기 피검사 디바이스가 안착되되, 상기 커버부재에 연결되어 상기 커버부재의 상승 및 하강에 따라서 상기 피검사 디바이스의 안착높이를 변경시킬 수 있는 높이조정 안착부를 포함하는 전기적 검사소켓에 대한 것이다.
申请公布号 KR101647443(B1) 申请公布日期 2016.08.10
申请号 KR20140195085 申请日期 2014.12.31
申请人 주식회사 아이에스시 发明人 정영배
分类号 G01R1/04;G01R31/26 主分类号 G01R1/04
代理机构 代理人
主权项
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