| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur berührungslosen Messung hoher Oberflächentemperaturen an einem metallischen Objekt mit niedrigem Emissionsgrad, insbesondere einem Aluminiumband (B), umfassend die folgenden Verfahrensschritte:
- Bereitstellen einer Strahlquelle (130, 140, 150) zur Erzeugung eines Messstrahls mit einem definierten Strahlungsspektrum,
- Bereitstellen einer Detektoreinheit (130. 140. 150) zur Messung der Emission an der Oberfläche des metallischen Objekts (B),
- Auftrag einer Beschichtung (S) zumindest auf einen Teil der zu messenden Oberfläche des metallischen Objekts (B), wobei die Beschichtung (S) temperaturstabil in einem Temperaturbereich > 450°C ist,
- Bestrahlung der beschichteten Oberfläche mit dem Messstrahl der Strahlquelle,
- Messung des Emissionsspektrums der Beschichtung (S) durch die Detektoreinheit und Erzeugen eines die Temperatur der Beschichtung (S) charakterisierenden elektrischen Signals in der Detektoreinheit.
Ferner betrifft die Erfindung eine Vorrichtung zur berührungslosen Messung hoher Oberflächentemperaturen an einem metallischen Objekt (B) mit niedrigem Emissionsgrad, insbesondere einem Aluminiumband sowie eine Anlage (100) umfassend eine solche Vorrichtung. |
