发明名称 |
一种液晶屏缺陷分层定位方法及装置 |
摘要 |
本发明实施例公开了一种液晶屏缺陷分层定位方法及装置,通过控制多台相机成像,且相机视场的重叠区域覆盖待测液晶屏;以待测液晶屏平面为基准面,标定各相机图像坐标系之间的映射关系T;根据映射关系T,将各相机对应的缺陷点图像坐标均映射到同一图像坐标系;根据映射后的对应缺陷点图像坐标偏差,判断缺陷点是否在基准面,辨识内外层缺陷。另外,通过相机图像坐标与物空间坐标的映射关系G,精确计算缺陷点深度坐标,确定缺陷层。通过多台相机构成视觉系统,将平面成像缺陷检测提升为立体成像,不仅能够判断缺陷点的有无和平面位置,而且获取其深度信息,进而完成缺陷点的内外分层定位、分级,帮助剔除干扰,指导工艺改善保证液晶屏质量。 |
申请公布号 |
CN105842885A |
申请公布日期 |
2016.08.10 |
申请号 |
CN201610161132.1 |
申请日期 |
2016.03.21 |
申请人 |
凌云光技术集团有限责任公司 |
发明人 |
金刚;姚毅;周钟海;马增婷;尹淑娟 |
分类号 |
G02F1/13(2006.01)I |
主分类号 |
G02F1/13(2006.01)I |
代理机构 |
北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 |
代理人 |
逯长明;许伟群 |
主权项 |
一种液晶屏缺陷分层定位方法,其特征在于,包括以下步骤:控制多台相机成像,且所述相机视场的重叠区域覆盖待测液晶屏;以待测液晶屏平面为基准面,对所述相机的成像关系进行标定,确定在所述基准面上多台所述相机对应的图像坐标系之间的映射关系T;所述相机分别获取待测液晶屏的缺陷点图像,并根据所述映射关系T,将缺陷点图像坐标均映射到同一图像坐标系中;根据映射后的对应缺陷点图像坐标偏差,判断所述缺陷点是否在基准面上,完成缺陷内外分层辨识。 |
地址 |
100094 北京市海淀区玉津东路智谷中心2号楼 |