发明名称 |
一种基于强度调制的白光干涉相位显微系统 |
摘要 |
本实用新型公开了一种基于强度调制的白光干涉相位显微系统,通过改进了光路设计,利用纯振幅空间光调制器代替纯相位空间光调制器,可以控制参考光的光强,当参考光强变化时,干涉光强随之变化,若已知振幅型空间光调制器的调制曲线,就可以求得干涉图中的各个信息分量;本系统产生的光强变化大,可以使用普通相机获得干涉数据;本技术方案中,透射型光路不存在入射角度的问题,解决了入射角限制的问题。 |
申请公布号 |
CN205449795U |
申请公布日期 |
2016.08.10 |
申请号 |
CN201620222359.8 |
申请日期 |
2016.03.22 |
申请人 |
佛山市南海区欧谱曼迪科技有限责任公司 |
发明人 |
王翰林;安昕;张浠 |
分类号 |
G01N21/45(2006.01)I;G01J9/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/45(2006.01)I |
代理机构 |
深圳市盈方知识产权事务所(普通合伙) 44303 |
代理人 |
周才淇;刘杰 |
主权项 |
一种基于强度调制的白光干涉相位显微系统,其特征在于,包括:显微镜装置,用于显微成像;第一透镜组,置于显微镜装置的成像面后面;透射式纯振幅空间光调制器,用于对经过傅里叶变换后的光进行分区域强度调制,放置在第一透镜组的后焦面上;第二透镜组,置于透射式纯振幅空间光调制器后方,与第一透镜组组成4f系统;相机,用于对样品进行成像,置于透镜组的后焦面上。 |
地址 |
528251 广东省佛山市南海区桂城街道桂城平洲永安北路1号金谷光电产业社区A座504 |