发明名称 |
选择性融合2Dx射线图像和3D超声图像的系统和方法 |
摘要 |
提供了一种使用两种不同成像形式对结构同时进行成像并且将图像融合为单个融合二维图像的系统和方法。该系统和方法包括,使用x射线系统(102)获取二维(2D)x射线图像数据(132)以及使用超声成像系统(122)获取三维(3D)超声图像体积数据(134)。产生关于相应于所述2D x射线图像数据(132)的感兴趣区域的3D超声图像体积数据(134)的2D表示。使用计算机(130)将所述3D超声图像体积数据(134)的2D表示与所述2D x射线图像数据(132)进行融合,以绘制可以实时显示的所述结构的2D融合图像(140)。所述计算机(130)可以是所述x射线系统(102)的一部分、所述超声系统(122)的一部分或者是自身具有显示器(136)的独立单元。 |
申请公布号 |
CN101243472B |
申请公布日期 |
2016.08.03 |
申请号 |
CN200680029534.0 |
申请日期 |
2006.07.12 |
申请人 |
皇家飞利浦电子股份有限公司 |
发明人 |
M·特莫尔斯 |
分类号 |
G06T11/00(2006.01)I |
主分类号 |
G06T11/00(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
龚海军;谭祐祥 |
主权项 |
一种对结构进行成像的方法,该方法包括:获取二维2Dx射线图像数据(132);获取三维3D超声图像体积数据(134);产生关于相应于2D x射线图像数据(132)的感兴趣区域的3D超声图像体积数据(134)的2D表示;通过使用光照模型来确定所反射的光量从而为每个像素确定超声数据的亮度值;将3D超声图像体积数据(134)的2D表示与2D x射线图像数据(132)进行融合,以绘制该结构的2D融合图像(140),其中重叠像素的融合是x射线图像数据的像素亮度值和3D超声图像体积数据(134)的2D表示的像素亮度值的alpha融合;以及显示该结构的2D融合图像(140)。 |
地址 |
荷兰艾恩德霍芬 |