| 发明名称 | 测试模式电路及包括该测试模式电路的半导体器件 | ||
| 摘要 | 一种半导体器件的测试模式电路，包括：测试模式激活信号发生单元，适用于响应于测试信号来产生测试模式激活信号；测试时钟发生单元，适用于响应于测试模式激活信号和控制时钟来产生多个测试时钟；测试控制信号发生单元，适用于基于控制信号输入循环的多个测试时钟来产生测试控制信号，其中，多个测试时钟具有控制信号输入循环和数据输入循环；以及内部控制信号发生单元，适用于响应于测试控制信号和输入数据来产生多个控制信号，以执行测试操作。 | ||
| 申请公布号 | CN105825895A | 申请公布日期 | 2016.08.03 |
| 申请号 | CN201510387985.2 | 申请日期 | 2015.07.03 |
| 申请人 | 爱思开海力士有限公司 | 发明人 | 金辅谦;辛泰承 |
| 分类号 | G11C29/14(2006.01)I;G11C29/56(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/14(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人 | 俞波;许伟群 |
| 主权项 | 一种半导体器件的测试模式电路，所述测试模式电路包括：测试模式激活信号发生单元，适用于响应于测试信号来产生测试模式激活信号；测试时钟发生单元，适用于响应于所述测试模式激活信号和控制时钟来产生多个测试时钟；测试控制信号发生单元，适用于基于控制信号输入循环的所述多个测试时钟来产生测试控制信号，其中，所述多个测试时钟具有所述控制信号输入循环和数据输入循环；以及内部控制信号发生单元，适用于响应于所述测试控制信号和输入数据来产生多个控制信号，以执行测试操作。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道 | ||