| 发明名称 | 芯片测试方法及芯片 | ||
| 摘要 | 本发明实施例公开了一种芯片测试方法及芯片，所述方法包括：对联合测试行为组织JTAG管脚和功能管脚进行复用，复用后的所述JTAG管脚用于配置测试访问口TAP中的自定义寄存器的控制信号，所述控制信号用于控制多路选择器MUX选通特定的测试信号，复用后的所述功能管脚用于输出所述测试信号；为TAP内部添加自定义寄存器，所述自定义寄存器用于根据复用后的所述JTAG管脚的配置产生相应的控制信号，并控制所述MUX选通特定的测试信号。本发明适用于芯片内部信号的调试。 | ||
| 申请公布号 | CN103376400B | 申请公布日期 | 2016.08.03 |
| 申请号 | CN201210129143.3 | 申请日期 | 2012.04.27 |
| 申请人 | 华为技术有限公司 | 发明人 | 刘宇;李翔;王锋;何建波 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I;G01R1/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人 | 申健 |
| 主权项 | 一种芯片测试方法，其特征在于，包括：对JTAG管脚和功能管脚进行复用，复用后的所述JTAG管脚用于配置测试访问口TAP中的自定义寄存器的控制信号，所述控制信号用于控制多路选择器MUX选通特定的测试信号，复用后的所述功能管脚用于输出所述测试信号。 | ||
| 地址 | 518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼 | ||