发明名称 |
电阻式随机存取存储器单元及其制造方法 |
摘要 |
本发明公开了一种电阻式随机存取存储器单元及其制造方法,是有关于一种以金属氧化物为基础的存储器装置及其制造方法,且特别是有关于一种存储器装置,其具有以金属氧化合物为基础的数据储存物质,其制造方法是利用粗糙度调整工艺,包括在底电极表面形成存储器元件之前,在底电极表面上先进行氧化再离子轰击(ion bombardment)步骤。先氧化再离子轰击步骤可改善底电极表面的平坦度,以及降低底电极的表面粗糙度,有利于操作时达到更均匀的电场,从而改善存储器装置的稳定性。 |
申请公布号 |
CN105826347A |
申请公布日期 |
2016.08.03 |
申请号 |
CN201510449289.X |
申请日期 |
2015.07.28 |
申请人 |
旺宏电子股份有限公司 |
发明人 |
李峰旻;林昱佑;李岱萤 |
分类号 |
H01L27/24(2006.01)I;H01L45/00(2006.01)I |
主分类号 |
H01L27/24(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
任岩 |
主权项 |
一种制造电阻式随机存取存储器单元的方法,包括:形成穿过一绝缘层的一层间导电层,该层间导电层具有一第一端及一第二端;以及自该层间导电层的该第二端形成一存储器元件,包括:使该层间导电层的第二端下陷至低于该绝缘层的一上表面;平坦化该层间导电层的该第二端,于该层间导电层上产生一平坦上表面;在该绝缘层中该层间导电层的该第二端周围形成一凹陷,其中该凹陷包括一底部以及一凹形侧壁部,该底部具有低陷于该绝缘层上表面的一表面,该凹形侧壁部从该底部延伸出来;以及氧化该平坦的层间导电层的该第二端,以形成该存储器元件。 |
地址 |
中国台湾新竹科学工业园区力行路16号 |