发明名称 基带芯片自动化测试的系统及方法
摘要 本发明涉及通信芯片测试技术领域,尤其涉及一种基带芯片自动化测试的系统及方法,通过将待测试的基带芯片固定在测试平台后,利用测试设备根据预设的测试程序数据包,对基带芯片上的接口自动的依次进行与每个接口匹配的系统级测试(即模拟每个接口所能实现的功能,以测试该接口的各项参数是否符合要求),并将测试的结果数据存储在一独立的存储器中,进而在提高芯片测试效率的同时,大大提高测试的准确度,且存储器中存储的测试结果数据还能用于后续的数据统计和分析。
申请公布号 CN105827333A 申请公布日期 2016.08.03
申请号 CN201510007376.X 申请日期 2015.01.07
申请人 展讯通信(上海)有限公司 发明人 任向涛;龚洁;方广伟;洪莉纯;徐炯
分类号 H04B17/00(2015.01)I 主分类号 H04B17/00(2015.01)I
代理机构 上海申新律师事务所 31272 代理人 俞涤炯
主权项 一种基带芯片自动化测试的系统,所述基带芯片具有若干个接口,其特征在于,所述系统包括:测试平台,设置有连接模块,所述基带芯片固定设置于所述测试平台上;测试设备,与所述测试平台连接,且该测试设备中预存储有测试程序数据包;存储器,与所述测试设备连接;其中,所述测试平台从所述测试设备上下载所述测试程序数据包,以通过所述连接模块对所述接口进行系统级测试;所述测试设备对所述系统级测试进行判断,以获取并存储测试结果数据至所述存储器中。
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