发明名称 |
基带芯片自动化测试的系统及方法 |
摘要 |
本发明涉及通信芯片测试技术领域,尤其涉及一种基带芯片自动化测试的系统及方法,通过将待测试的基带芯片固定在测试平台后,利用测试设备根据预设的测试程序数据包,对基带芯片上的接口自动的依次进行与每个接口匹配的系统级测试(即模拟每个接口所能实现的功能,以测试该接口的各项参数是否符合要求),并将测试的结果数据存储在一独立的存储器中,进而在提高芯片测试效率的同时,大大提高测试的准确度,且存储器中存储的测试结果数据还能用于后续的数据统计和分析。 |
申请公布号 |
CN105827333A |
申请公布日期 |
2016.08.03 |
申请号 |
CN201510007376.X |
申请日期 |
2015.01.07 |
申请人 |
展讯通信(上海)有限公司 |
发明人 |
任向涛;龚洁;方广伟;洪莉纯;徐炯 |
分类号 |
H04B17/00(2015.01)I |
主分类号 |
H04B17/00(2015.01)I |
代理机构 |
上海申新律师事务所 31272 |
代理人 |
俞涤炯 |
主权项 |
一种基带芯片自动化测试的系统,所述基带芯片具有若干个接口,其特征在于,所述系统包括:测试平台,设置有连接模块,所述基带芯片固定设置于所述测试平台上;测试设备,与所述测试平台连接,且该测试设备中预存储有测试程序数据包;存储器,与所述测试设备连接;其中,所述测试平台从所述测试设备上下载所述测试程序数据包,以通过所述连接模块对所述接口进行系统级测试;所述测试设备对所述系统级测试进行判断,以获取并存储测试结果数据至所述存储器中。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路2288弄展讯中心1号楼 |