发明名称 一种残余应力动态分布的超声阵列层析检测和监测方法
摘要 本发明涉及一种残余应力分布超声阵列层析检测和监测方法,该方法使用超声阵列获取检测数据,适用于被测构件中残余应力平均分布测量,能够对被测构件内残余应力平均分布状态和区域位置进行声学图像的重建。本发明提出的超声阵列层析检测方法基于局部信号差别原理来实现。采用超声斜入射方法获得临界折射纵波,检测时采用透射法首先采集无残余应力情况下的背景数据,然后使用相同的方法采集有残余应力存在时的超声阵列数据,依据有无残余应力时局部检测信号和背景信号之间的对比,结合被测构件内残余应力分布出现概率的权重系数来重建图像。图像中的像素点表示声波所经过残余应力区域的声时差变化属性,从而区分出残余应力分布状态和位置。根据残余应力层析成像方法,分析阵列个数和布置方式对残余应力分布状态的影响以及激励频率对残余应力检测深度的影响。
申请公布号 CN105823826A 申请公布日期 2016.08.03
申请号 CN201610137908.6 申请日期 2016.03.10
申请人 北京理工大学 发明人 徐春广;蔡海潮;李培禄;肖定国;潘勤学;王俊峰;田海兵;卢宗兴
分类号 G01N29/06(2006.01)I;G01L5/00(2006.01)I 主分类号 G01N29/06(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种残余应力分布超声阵列层析检测和监测方法,其特征在于:运用声时差技术,采用超声斜入射方式构建超声应力检测阵列装置,将超声阵列布置于被测构件表面,设置发射接收换能器获得超声波数据,通过概率层析算法完成构件内残余应力分布状态的检测和监测,依据构件残余应力分布状态,分析阵列个数及布置方式对残余应力分布状态变化和激励频率对检测深度的影响。
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