发明名称 |
用于测量运行带材上的涂层厚度的方法和装置 |
摘要 |
本发明提供一种用于测量运行带材的涂覆材料层厚度的方法和装置,根据该方法,通过使用涡电流传感器,针对带材的至少一个区域来测量表示涂覆层厚度的量,并且根据测得的量和至少一个校准值来确定涂覆层的厚度。使用涡电流传感器进行的测量包括测量面对运行带材的线圈对于低频激励和高频激励的复阻抗,以及根据所述复阻抗的测量来详尽地得出表示涂覆层厚度的量。本发明还提供一种用于实施该方法的装置以及装备有该装置的涂覆设备。 |
申请公布号 |
CN103080695B |
申请公布日期 |
2016.08.03 |
申请号 |
CN201180037838.2 |
申请日期 |
2011.05.30 |
申请人 |
安赛乐米塔尔研究与发展有限责任公司 |
发明人 |
皮埃尔·戈吉 |
分类号 |
G01B15/02(2006.01)I;G01B7/06(2006.01)I |
主分类号 |
G01B15/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
王艳江 |
主权项 |
一种用于测量运行带材的涂覆材料层厚度的方法,根据所述方法,凭借涡电流传感器,针对带材的至少一个区域,测量表示涂覆层厚度的量,并且根据测得的量和至少一个校准值来确定针对该区域的所述涂覆层厚度,其特征在于利用涡电流传感器实施的所述测量包括测量面对所述运行带材的线圈针对低激励频率和高激励频率的复阻抗,以及根据所述复阻抗的测量来详尽地得出表示所述涂覆层厚度的量。 |
地址 |
西班牙塞斯陶 |