发明名称 |
掩模式只读存储器及其形成方法 |
摘要 |
一种掩模式只读存储器及其形成方法,其中形成方法包括:半导体衬底沿其厚度方向具有第一部分、第二部分,位于第一部分上且与第一部分接触的第二部分,第一部分具有第一型掺杂且沿第一方向分为隔离开的若干埋线;在埋线上的第二部分中形成沿第二方向隔离开的若干二极管,二极管具有第一电极、位于第一电极上的第二电极,第一电极与埋线接触,所第一电极具有第二掺杂且第二电极具有第二型掺杂;第二型掺杂和第一型掺杂为两反型掺杂,第一、二方向为两不同方向。本发明提供一种新的掩模式只读存储器,其形成工艺不会影响CMOS器件及其上的互连结构的性能,新的掩模式只读存储器可靠性较高。 |
申请公布号 |
CN105826320A |
申请公布日期 |
2016.08.03 |
申请号 |
CN201510006957.1 |
申请日期 |
2015.01.07 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
发明人 |
张超;詹奕鹏 |
分类号 |
H01L27/112(2006.01)I;H01L21/8246(2006.01)I |
主分类号 |
H01L27/112(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
张亚利;骆苏华 |
主权项 |
一种掩模式只读存储器的形成方法,其特征在于,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底沿其厚度方向具有第一部分、位于所述第一部分上且与所述第一部分接触的第二部分,所述第一部分具有第一型掺杂,所述第一部分沿第一方向分为隔离开的若干埋线;在所述埋线上的第二部分中形成沿第二方向隔离开的若干二极管,所述二极管具有第一电极、位于所述第一电极上的第二电极,所述第一电极与埋线接触,所述第一电极具有第二掺杂且所述第二电极具有第二型掺杂;所述第二型掺杂和第一型掺杂为两反型掺杂,所述第一方向和第二方向为两不同方向。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江路18号 |