发明名称 试样测定装置
摘要 在支架的每个试样收容部安装接合器。接合器具有一对臂,所述一对壁具有一对下端构造体。在一对下端构造体上载置有试样容器的状况下,当对一对下端构造体施加水平方向的打开力时,所述一对下端构造体向水平方向外侧进行退避运动。之后在打开状态下,试样容器从支架向升降机构转交。另一方面,在闭合状态下,当对试样容器施加垂直方向的按压力时,各接合器所具有的限位片下降。在该下降状态下限制一对臂的打开运动。
申请公布号 CN105829894A 申请公布日期 2016.08.03
申请号 CN201480055746.0 申请日期 2014.09.30
申请人 株式会社日立制作所 发明人 花谷智则;芥雄二郎
分类号 G01N35/04(2006.01)I;B65G1/133(2006.01)I;G01T7/08(2006.01)I;G01T1/204(2006.01)I 主分类号 G01N35/04(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 刘建
主权项 一种试样测定装置,其特征在于,包括:支架,其具有试样收容部;搬运机构,其搬运所述支架;以及开闭机构,其设置于所述试样收容部,在闭合状态下保持试样容器,在打开状态下释放所述试样容器,所述开闭机构在承受水平方向的打开力的情况下从所述闭合状态变化为所述打开状态,在经由所述试样容器承受垂直方向的按压力的情况下维持所述闭合状态。
地址 日本东京都