发明名称 用于分析检测的分光光度计
摘要 本实用新型公开了一种用于分析检测的分光光度计,涉及分析检测仪器,用于解决现有的设备检测波长数据不准确的问题。它包括壳体,位于壳体左部分的样品室,位于壳体右部分的观察室,所述壳体左部分设有用于放置样品室的第一卡槽,所述样品室包括样品盒,位于样品盒内部的比色皿槽,位于样品盒顶部的样品盖,用于连接样品盖和样品盒的第一转轴,所述样品盖后端连接第一转轴,所述第一转轴左端活动连接样品盒左侧,所述第一转轴右端活动连接样品盒右侧;所述观察室顶部设有波长显示窗,波长调节旋钮。采用便于清洗的比色皿槽,以便清理残留物,提高检测波长数据的准确性。
申请公布号 CN205426767U 申请公布日期 2016.08.03
申请号 CN201620198524.0 申请日期 2016.03.15
申请人 重庆三峡学院 发明人 饶通德;梁丽娇
分类号 G01N21/01(2006.01)I;G01N21/31(2006.01)I 主分类号 G01N21/01(2006.01)I
代理机构 重庆百润洪知识产权代理有限公司 50219 代理人 高姜
主权项 用于分析检测的分光光度计,包括壳体,位于壳体左部分的样品室,位于壳体右部分的观察室,其特征在于:所述壳体左部分设有用于放置样品室的第一卡槽,所述样品室包括样品盒,位于样品盒内部的比色皿槽,位于样品盒顶部的样品盖,用于连接样品盖和样品盒的第一转轴,所述样品盖后端连接第一转轴,所述第一转轴左端活动连接样品盒左侧,所述第一转轴右端活动连接样品盒右侧;所述观察室顶部设有波长显示窗,波长调节旋钮,所述波长显示窗包括第一开口,用于遮挡第一开口的第一旋盖,第二转轴,所述第一旋盖通过第二转轴连接壳体;所述样品盒内部对称设有导向滑轨,所述比色皿槽底部设有用于在导向滑轨上滑动的第一凸起,所述比色皿槽前端设有第一拉杆,所述第一拉杆一端连接比色皿槽,其另一端延伸出壳体。
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