一种微波布拉格实验用角度测量装置的测量方法

摘要

本发明公开了一种微波布拉格实验用角度测量装置，包括：刻度盘，其设置有第一组角度刻度；游标盘，其与刻度盘同轴设置，游标盘设置有第二组角度刻度；轴，其设置在刻度盘和游标盘的圆心处，刻度盘和游标盘绕轴旋转；指针组，其包括两个指针，用于指示第一组角度刻度或第二组角度刻度的角度值。本发明测量装置具有更高的测量精度。本发明还公开了一种微波布拉格实验用角度测量装置的测量方法。

主权项

一种微波布拉格实验用角度测量装置的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一：将第一指针(41)与第二指针(42)可调节地设置在刻度盘(1)和游标盘(2)的上方，计算入射角α与反射角的夹角θ，所述夹角θ的角度值为所述入射角α的角度值的两倍；步骤二：校准角度测量装置，使垫板(6)上待测模拟晶体的法线与所述游标盘(2)的零刻度对齐并随所述游标盘(2)共同旋转；步骤三：保持所述刻度盘(1)静止，调整所述游标盘(2)的零刻度至所述夹角θ的角度值；步骤四：保持所述刻度盘(1)与所述游标盘(2)相对静止，旋转所述刻度盘(1)使所述游标盘(2)的零刻度与所述第一指针(41)对齐；步骤五：保持所述刻度盘(1)静止，调整所述游标盘(2)的零刻度至所述入射角α的角度值；步骤六：调节所述第二指针(42)使其与所述刻度盘(1)的零刻度对齐；步骤七：测量所述模拟晶体的微波布拉格实验数据。