一种基于单片机的多路光照强度测量电路

摘要

本实用新型公开了一种基于单片机的多路光照强度测量电路，包括单片机和N个光照强度传感器；光照强度传感器采用BH1750FVI传感器，光照强度传感器具有串行时钟端和串行数据端；第1、2、3...N光照强度传感器的串行时钟端与第一数控选通模块的第1、2、3...N输入端对应连接；第1、2、3...N光照强度传感器的串行数据端与第二数控选通模块的第1、2、3...N输入端对应连接。本实用新型具有光照强度测量精度高，系统结构简单，并且能同时对多路光照强度信号进行采集、测量的优点。

主权项

一种基于单片机的多路光照强度测量电路，其特征在于：包括单片机和N个光照强度传感器；所述光照强度传感器采用BH1750FVI传感器，所述光照强度传感器具有串行时钟端和串行数据端；第1、2、3...N光照强度传感器的串行时钟端与第一数控选通模块的第1、2、3...N输入端对应连接；第1、2、3...N光照强度传感器的串行数据端与第二数控选通模块的第1、2、3...N输入端对应连接；第一数控选通模块的输出端与单片机的第一输入口相连接；第二数控选通模块的输出端与单片机的第二输入口相连接；第一数控选通模块的数控选通端与单片机的第一输出口相连接；第二数控选通模块的数控选通端与单片机的第二输出口相连接；第一数控选通模块的输入端口个数均为M个，第二数控选通模块的输入端口个数均为M个，其中M≥N。