一种高反射物体表面光场偏折术测量系统和方法

摘要

本发明涉及一种高反射物体表面光场偏折术测量系统和方法，用于高反射物体表面的三维重建，本系统采用光线反射原理获取高反射物体表面的法线信息,继而获得曲面信息，由光场投射系统，光线感知系统。本方法是通过相位恢复术确定入射光线和反射光线的对应性计算待测物体表面三维点。本发明相较普通相位偏折术不存在‘法线不唯一问题’，并且在光场相机模式下，对物体表面高度变化有更高的响应特性，能够得到更高的测量精度，填补了国内外基于光场的偏折术测量系统的空白。

主权项

一种高反射物体表面光场偏折术测量系统,包括光场投射系统（Ⅱ）、光线感知系统（Ⅰ），外框（Ⅳ）和待测物体（Ⅲ）；所述光场感知系统（Ⅰ）通过其中的一个相机角度调节板支撑（5）螺纹连接固定在光场投射系统（Ⅱ）中的一个双显示器连接上盖板（12）上；所述光场投射系统（Ⅱ）通过4个连接件（6）螺纹连接固定在外框（Ⅳ）上；所述待测物体（Ⅲ）放置在光场感知系统（Ⅰ）中的一个相机（1）视场和光场投射系统（Ⅱ）投射区域交集的区域。