发明名称 |
双能射线成像方法和系统 |
摘要 |
公开了一种双能射线成像方法和系统。该方法包括:利用标定的曲面拟合方法计算两种材料重叠区域的材料质量厚度,再将该像素原始的一对高低能数据分解为对应两种材料的两组高低能数据,最后计算得到每一个像素不同材料的分解结果。该发明的独特优势在于能够消除由于两种材料前后重叠导致的材料错误识别问题,可以实现多种材料的分层成像,有效提高物质识别的准确性,降低误报率和漏报率,特别是对于安检、海关缉私等领域的应用具有十分重要的意义。 |
申请公布号 |
CN105806856A |
申请公布日期 |
2016.07.27 |
申请号 |
CN201410842363.X |
申请日期 |
2014.12.30 |
申请人 |
清华大学;同方威视技术股份有限公司 |
发明人 |
李亮;陈志强;康克军;张丽;赵自然;邢宇翔;肖永顺;顾建平;郑娟 |
分类号 |
G01N23/04(2006.01)I;G01N23/10(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/04(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
王波波 |
主权项 |
一种双能射线成像方法,包括步骤:对被检查物体进行双能透射扫描,得到所述被检查物体的至少一部分的高能投影数据和低能投影数据;利用标定的曲面拟合方法计算由每个像素的高能投影数据和低能投影数据组成至少一组投影数据所对应的两种基材料的质量厚度,所述两种基材料包括第一基材料和第二基材料;基于该两种基材料各自的质量衰减系数和所计算的质量密度,计算与第一基材料对应的第一高低能数据组和与第二基材料对应的第二高能数据组;利用所计算的第一高低能数据组和第二高低能数据组进行物质识别。 |
地址 |
100084 北京市海淀区清华园1号 |