发明名称 |
横向绝缘栅双极型晶体管的制造方法 |
摘要 |
本发明涉及一种横向绝缘栅双极型晶体管的制造方法,包括:提供形成有N型埋层、STI、第一N阱以及第一P阱的晶圆;在晶圆表面淀积形成高温氧化膜;进行热推阱并对高温氧化膜进行光刻和刻蚀,形成迷你氧化层;在第一N阱内形成第二N阱,以及在所述第一N阱和第一P阱内形成第二P阱;在晶圆表面形成栅氧化层和多晶硅栅;光刻并注入N型离子,在第二N阱内、迷你氧化层和与迷你氧化层相邻的STI间形成漏极,同时在第二P阱内形成源极。本发明利用应力较小的HTO来做降低LDMOS表面电场的mini-oxide,有源区边缘不会产生dislocation。通过推阱步骤使得HTO变致密,极大地降低了HTO的湿法腐蚀速率,保证了mini-oxide在后续清洗过程中腐蚀量可得到稳定控制,可用于批量生产。 |
申请公布号 |
CN105810583A |
申请公布日期 |
2016.07.27 |
申请号 |
CN201410849111.X |
申请日期 |
2014.12.30 |
申请人 |
无锡华润上华半导体有限公司 |
发明人 |
黄枫;韩广涛;孙贵鹏;林峰;赵龙杰;林华堂;赵兵;刘理想;平梁良;陈凤英 |
分类号 |
H01L21/331(2006.01)I;H01L21/316(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/331(2006.01)I |
代理机构 |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人 |
邓云鹏 |
主权项 |
一种横向绝缘栅双极型晶体管的制造方法,包括步骤:提供形成有N型埋层、N型埋层上的浅槽隔离结构、N型埋层上的第一N阱以及N型埋层上的第一P阱的晶圆;在所述晶圆表面淀积形成高温氧化膜;进行热推阱并对所述高温氧化膜进行光刻和刻蚀,形成迷你氧化层;进行第二N阱和第二P阱的光刻和离子注入从而在所述第一N阱内形成第二N阱,以及在所述第一N阱和第一P阱内形成第二P阱;在所述晶圆表面形成栅氧化层和多晶硅栅;所述栅氧化层和多晶硅栅一端搭接于第一N阱内的第二P阱上,另一端搭接于所述第二N阱上的迷你氧化层上;光刻并注入N型离子,在所述第二N阱内、所述迷你氧化层和与迷你氧化层相邻的浅槽隔离结构间形成漏极,同时在所述第二P阱内形成源极。 |
地址 |
214028 江苏省无锡市国家高新技术产业开发区新洲路8号 |