发明名称 一种基于低相干干涉技术的测斜系统及方法
摘要 本发明提供了一种基于低相干干涉技术的测斜系统,包括LCI倾斜计,LCI倾斜计包括密封套筒,悬臂梁设于密封套筒内且一端固定,悬臂梁的自由端设有中心锤,悬臂梁的两端分别设有LCI光纤传感器;LCI光纤传感器连接信号臂,信号臂与宽带光源连接,信号臂上设有第一耦合器;参考臂与信号接收处理系统连接,参考臂上设有第二耦合器;第一耦合器与第二耦合器之间通过光纤光缆连接;第二耦合器还连接末端切平的用以反射光信号的光纤;参考臂与光学移动扫描平台上的反光镜相配合。本发明提供了一种基于低相干干涉技术的测斜方法。本发明基于低相干干涉仪的传感器技术测量工程结构倾斜的角度,具有抗电磁干扰、测量精度高的特点。
申请公布号 CN105806262A 申请公布日期 2016.07.27
申请号 CN201610273675.2 申请日期 2016.04.28
申请人 东华大学;上海大学 发明人 张一帆;洪成雨;张亚文
分类号 G01B11/26(2006.01)I 主分类号 G01B11/26(2006.01)I
代理机构 上海申汇专利代理有限公司 31001 代理人 翁若莹;吴小丽
主权项 一种基于低相干干涉技术的测斜系统,其特征在于:包括LCI倾斜计(6),LCI倾斜计(6)包括密封套筒(17),悬臂梁(13)设于密封套筒(17)内且一端固定,悬臂梁(13)的自由端设有中心锤(12),悬臂梁(13)的两端分别设有LCI光纤传感器(19);LCI光纤传感器(19)连接信号臂(5),信号臂(5)与宽带光源(1)连接,信号臂(5)上设有第一耦合器(41);参考臂(10)与信号接收处理系统(2)连接,参考臂(10)上设有第二耦合器(42);第一耦合器(41)与第二耦合器(42)之间通过光纤光缆连接;第二耦合器(42)还连接末端切平的用以反射光信号的光纤(7);参考臂(10)与光学移动扫描平台(8)上的反光镜(9)相配合。
地址 201620 上海市松江区人民北路2999号