发明名称 | 一种标定基准镜法线方向的辅助光校装置及方法 | ||
摘要 | 本发明公开一种标定基准镜法线方向的辅助光校装置及方法,特别适用于辅助基准镜法线方向标定、光学仪器的光轴监测等领域。该发明基于角锥棱镜的自准直功能,利用分光镜(Beam Splitter)的分光功能将两束激光调节至互成180度,利用两束光互成180度的特点,其中一束光经过分光镜后直接出射,另一束光经过分光镜、基准镜反射后再次经过分光镜出射,通过调节基准镜的方向使得两束出射光的光轴重合,则该出射光的方向即为基准镜法线方向。本发明装置结构简单、成本低廉、标定方法简单。 | ||
申请公布号 | CN105784335A | 申请公布日期 | 2016.07.20 |
申请号 | CN201610236246.8 | 申请日期 | 2016.04.15 |
申请人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明人 | 吴金才;何志平;舒嵘;王建宇 |
分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
代理机构 | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人 | 郭英 |
主权项 | 一种标定基准镜法线方向的辅助光校装置,包括第一单模光纤(1)、第二单模光纤(2)、第一准直镜(3)、第二准直镜(4)和分光镜(5),角锥棱镜(6)、平行光管(7)、光束分析仪(8)为辅助调节装置,其特征在于:第一单模光纤(1)、第二单模光纤(2)分别引入激光光源,其中第一单模光纤(1)引入光经第一准直镜(3)准直出射,再经过分光镜(5)反射后进入平行光管(7)并在焦面光束分析仪(8)上成像,记录成像点位置;第二单模光纤(2)引入光经第二准直镜(4)准直出射,再经过分光镜(5)反射、角锥棱镜(6)沿原光路返回后进入平行光管(7)并在焦面光束分析仪(8)上成像,调节第二准直镜(4)使得两束光的成像点重合;撤掉角锥棱镜(6),最终第一单模光纤(1)、第二单模光纤(2)引入光的出射方向成180度,并用来对辅助基准镜法线方向标定或对光学仪器的光轴监测。 | ||
地址 | 200083 上海市虹口区玉田路500号 |