一种MCU的校准方法和系统

摘要

本发明公开了一种MCU的校准方法和系统，以解决在MCU中集成OTP使MCU增加较大的面积、制造工艺复杂、以及产生错误概率增加的问题。其中，方法包括：在MCU的出厂前测试时，MCU运行过程中，接收测试校准信息，将测试校准信息写入校准控制单元；利用测试校准信息对待校准模块进行测试校准操作；判断在测试校准操作后，待校准模块是否满足预设的测试条件；若满足预设的测试条件，则将测试校准信息写入非易失性存储器。本发明不需要增加额外的特殊工艺，芯片制造工艺简单，产生错误的概率降低，并且降低了校准时间，从而降低芯片成本。

主权项

一种MCU的校准方法，其特征在于，所述MCU与非易失性存储器连接，所述MCU包括校准控制单元和待校准模块；所述方法包括：在所述MCU的出厂前测试时，所述MCU运行过程中，接收测试校准信息，将所述测试校准信息写入所述校准控制单元；利用所述测试校准信息对所述待校准模块进行测试校准操作；判断在测试校准操作后，所述待校准模块是否满足预设的测试条件；若满足预设的测试条件，则将所述测试校准信息写入所述非易失性存储器。