发明名称 |
试样测定装置 |
摘要 |
在试样测定装置中,升降机构从支架向试样测定室搬运试样容器。以跨越基体框的上表面与头的下表面且包围轴的方式设置有内侧遮光构造。内侧遮光构造由第一环形槽与第一环形突起构成。在头处于基底状态的情况下,通过弹簧的作用使基体框的上表面与头的下表面紧贴。此时,第一环形槽与第一环形突起合体。在内侧遮光构造的周围设置有外侧遮光构造,顶板具有层叠构造,且具有遮光片和光反射板。 |
申请公布号 |
CN105793713A |
申请公布日期 |
2016.07.20 |
申请号 |
CN201480055744.1 |
申请日期 |
2014.09.30 |
申请人 |
株式会社日立制作所 |
发明人 |
花谷智则 |
分类号 |
G01N35/04(2006.01)I;G01T1/167(2006.01)I;G01T1/20(2006.01)I;G01T7/08(2006.01)I |
主分类号 |
G01N35/04(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
刘建 |
主权项 |
一种试样测定装置,其特征在于,包括:搬运机构,其在搬运面上搬运支架;试样测定室,其设置在比所述搬运面靠下方的位置,收容来自所述支架的试样容器;基体框,其构成所述试样测定室的底部;以及升降机构,其具有上下贯通所述基体框的轴、设置于所述轴的上端且载置所述试样容器的头,所述升降机构在所述支架与所述试样测定室之间搬运所述试样容器,在所述轴被下拉至最下端的基底状态下,所述基体框的上表面与所述头的下表面接合,以跨越所述基体框的上表面和所述头的下表面并包围所述轴的方式设置有遮光构造。 |
地址 |
日本东京都 |