发明名称 一种光波导晶圆表面检测装置
摘要 本发明涉及晶圆表面检测技术领域,公开了一种光波导晶圆表面检测装置,包括可沿水平面多方向运动的多方向运动平台、激光共聚焦扫描测头与固定支架,本发明设置激光共聚焦扫描测头,可通过直接扫描待检测晶圆,测量翘曲率等数据并计算得到晶圆表面的残余应力数据,而待检测晶圆表面的沟槽等结构特征可直接扫描获得;本发明可同时对晶圆表面残余应力和沟槽等特征检测,避免转送至不同机台进行多次检测,大大减少了晶圆表面检测次数,检测效率和精度均较高,操作便捷快速;而且,多方向运动平台的设置可使待检测晶圆多方向运动,大大便于激光共聚焦扫描测头的全面扫描检测,可降低操作人员劳动强度,同时也减少检测所需时间,大大提高工作效率。
申请公布号 CN105789083A 申请公布日期 2016.07.20
申请号 CN201610365081.4 申请日期 2016.05.27
申请人 中南大学 发明人 郑煜;开小超;夏冰心;李白冰;段吉安
分类号 H01L21/66(2006.01)I;H01L21/67(2006.01)I 主分类号 H01L21/66(2006.01)I
代理机构 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人 李相雨
主权项 一种光波导晶圆表面检测装置,其特征在于,包括可沿水平面多方向运动的多方向运动平台、激光共聚焦扫描测头与固定支架,所述激光共聚焦扫描测头设置在所述固定支架上,待检测晶圆置于所述多方向运动平台上,且所述激光共聚焦扫描测头位于所述待检测晶圆上方,所述多方向运动平台带动所述待检测晶圆多方向运动,使所述激光共聚焦扫描测头对所述待检测晶圆不同位置扫描检测。
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