发明名称 |
一种光波导晶圆表面检测装置 |
摘要 |
本发明涉及晶圆表面检测技术领域,公开了一种光波导晶圆表面检测装置,包括可沿水平面多方向运动的多方向运动平台、激光共聚焦扫描测头与固定支架,本发明设置激光共聚焦扫描测头,可通过直接扫描待检测晶圆,测量翘曲率等数据并计算得到晶圆表面的残余应力数据,而待检测晶圆表面的沟槽等结构特征可直接扫描获得;本发明可同时对晶圆表面残余应力和沟槽等特征检测,避免转送至不同机台进行多次检测,大大减少了晶圆表面检测次数,检测效率和精度均较高,操作便捷快速;而且,多方向运动平台的设置可使待检测晶圆多方向运动,大大便于激光共聚焦扫描测头的全面扫描检测,可降低操作人员劳动强度,同时也减少检测所需时间,大大提高工作效率。 |
申请公布号 |
CN105789083A |
申请公布日期 |
2016.07.20 |
申请号 |
CN201610365081.4 |
申请日期 |
2016.05.27 |
申请人 |
中南大学 |
发明人 |
郑煜;开小超;夏冰心;李白冰;段吉安 |
分类号 |
H01L21/66(2006.01)I;H01L21/67(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/66(2006.01)I |
代理机构 |
北京路浩知识产权代理有限公司 11002 |
代理人 |
李相雨 |
主权项 |
一种光波导晶圆表面检测装置,其特征在于,包括可沿水平面多方向运动的多方向运动平台、激光共聚焦扫描测头与固定支架,所述激光共聚焦扫描测头设置在所述固定支架上,待检测晶圆置于所述多方向运动平台上,且所述激光共聚焦扫描测头位于所述待检测晶圆上方,所述多方向运动平台带动所述待检测晶圆多方向运动,使所述激光共聚焦扫描测头对所述待检测晶圆不同位置扫描检测。 |
地址 |
410083 湖南省长沙市麓山南路932号中南大学 |