耗材芯片的测试方法

摘要

本发明提供一种耗材芯片的测试方法，该测试的耗材芯片具有非易失性存储器，该方法包括测试耗材芯片的数据读写功能，并且，以最小编程时间快速向耗材芯片的非易失性存储器写入测试数据，验证所写入的测试数据正确后，在对耗材芯片掉电的状态下，对耗材芯片进行高温老化处理，待预定的老化时间结束后，读取存储在非易失性存储器内的数据，判断所读取的数据是否正确，并根据所读取的数据的正确性判断耗材芯片是否异常。本发明根据耗材芯片使用的实际情况，对耗材芯片进行掉电的高温老化测试，满足耗材芯片实际使用的需要，减少不合格产品的出现。

主权项

耗材芯片的测试方法，所述耗材芯片具有非易失性存储器，该方法包括测试耗材芯片的数据读写功能；其特征在于：以最小编程时间快速向所述耗材芯片的所述非易失性存储器写入测试数据，所述最小编程时间是编程器写入一字节数据最短的时间，验证所写入的测试数据正确后，在对所述耗材芯片掉电的状态下，对所述耗材芯片进行高温老化处理，待预定的老化时间结束后，读取存储在所述非易失性存储器内的数据，判断所读取的数据是否正确，并根据所读取的数据的正确性判断所述耗材芯片是否异常。