发明名称 |
自动温控光检测系统 |
摘要 |
本实用新型涉及一种自动温控光检测系统,包括光电二极管;温度传感器,用于检测所述光电二极管的温度;处理器,与所述温度传感器连接,用于处理温度传感器检测的温度数据;散热器,散热器通过继电器开关与所述处理器连接,处理器控制继电器开关的开或断;报警器,与处理器连接;处理器处理检测的温度数据后,若超出温度阈值,则向报警器发出控制信号;同时,处理器向继电器开关发出电源导通信号,电源导通后散热器启动进行散热。本实用新型能从本质上控制产生热电流的温度,首先控制温度,如果温度无法短时降到阈值以下,还可以通过现有技术中释放热电流的方式,从而实现进一步地控制热电流的影响。 |
申请公布号 |
CN205384529U |
申请公布日期 |
2016.07.13 |
申请号 |
CN201521112839.0 |
申请日期 |
2015.12.29 |
申请人 |
武汉光电工业技术研究院有限公司 |
发明人 |
赵彦立 |
分类号 |
G05D23/30(2006.01)I |
主分类号 |
G05D23/30(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种自动温控光检测系统,包括光电二极管,其特征在于,还包括:温度传感器,用于检测所述光电二极管的温度;处理器,与所述温度传感器连接,用于处理温度传感器检测的温度数据;散热器,散热器通过继电器开关与所述处理器连接,处理器控制继电器开关的开或断;报警器,与处理器连接;处理器处理检测的温度数据后,若超出温度阈值,则向报警器发出控制信号;同时,处理器向继电器开关发出电源导通信号,电源导通后散热器启动进行散热。 |
地址 |
430075 湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道999号未来科技城海外人才大楼B4座6楼 |