发明名称 基于静态杂波图的异物检测方法及异物检测设备
摘要 本发明公开了一种基于静态杂波图的异物检测方法及异物检测设备,该方法包括:获取初始静态杂波数据,按照不同的距离和方位计算每重下的初始静态杂波图;对多个初始静态杂波图进行二维配准、校正、滤波和三重重间配准后,得到每重下的最终的静态杂波图;获取扫描帧下的初始目标杂波图并经过二维配准、校正、滤波、三重重间配准后,形成当前扫描帧下的目标杂波图;根据FOD判别准则对比静态杂波图和目标杂波图,获得异物的位置信息;从而克服了现有技术中不能精确提供FOD具体位置,导致增加人力成本的问题,进而精确的提供了FOD具体位置信息,降低了工作人员排除外来异物的难度,减少了经济损失。
申请公布号 CN103675923B 申请公布日期 2016.07.13
申请号 CN201310694728.4 申请日期 2013.12.17
申请人 无锡市雷华科技有限公司 发明人 高雁;李猛;陈小虎
分类号 G01V3/12(2006.01)I 主分类号 G01V3/12(2006.01)I
代理机构 杭州裕阳专利事务所(普通合伙) 33221 代理人 应圣义
主权项 一种基于静态杂波图的异物检测方法,其特征在于,包括:(1)获取初始静态杂波数据,按照不同的距离和方位计算每重下的初始静态杂波图;(2)对多个所述初始静态杂波图进行二维配准、校正、滤波和三重重间配准后,得到每重下的最终的静态杂波图;(3)获取扫描帧下的初始目标杂波图并经过二维配准、校正、滤波和三重重间配准后,形成当前扫描帧下的目标杂波图;(4)根据 FOD 判别准则对比所述最终的静态杂波图和所述当前扫描帧下的目标杂波图,获得所述异物的位置信息;对多个所述初始静态杂波图进行二维配准包括:对第一初始静态杂波图和第二初始静态杂波图进行二维FFT计算;对第一初始静态杂波图进行复共轭后与第二初始静态杂波图进行向量点对点的相乘;将相乘的结果做反二维FFT计算,而后求取最大点并记录坐标值,所述坐标值即为校正量;对所述初始静态杂波图进行校正包括:根据所述校正量对所述第二初始静态杂波图进行校正操作;而后对第一初始静态杂波图和校正后的第二初始静态杂波图进行滤波,得到第一静态杂波图;而后,以该第一静态杂波图为基准,对第一静态杂波图和第三初始静态杂波图重复上述操作,直至多个所述初始静态杂波图均进行完所述二维配准、校正和滤波操作。
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