发明名称 一种离子电导率测试装置及采用其的测试方法
摘要 一种离子电导率测试装置,包括一电压/电流测试装置和一测试电极;所述测试电极包括一块体基底,于所述块体基底上设有线性排列的四个通孔,四根铂丝分别插入四个通孔内;于所述铂丝下端端面与块体基底下表面之间的通孔内部填充有离子导体聚合物。所述离子导体聚合物为全氟磺酸聚合物、磺化聚醚醚酮、季铵化聚砜、聚苯丙咪唑中的一种。所述离子电导率的测试装置可用于测量碳纸、碳粉、碳纤维、半导体、金属、聚合物中任一一种的离子电导率。所述测试装置检测离子电导率的方法包括离子电导的测量和数据处理两个步骤。所述测试装置和方法解决了电子导体中离子电导率难以测量的问题,测量结果较为准确,可反应材料中离子的电导特性。
申请公布号 CN105759123A 申请公布日期 2016.07.13
申请号 CN201410811333.2 申请日期 2014.12.19
申请人 中国科学院大连化学物理研究所 发明人 孙公权;夏章讯;王素力
分类号 G01R27/14(2006.01)I 主分类号 G01R27/14(2006.01)I
代理机构 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 代理人 马驰
主权项 一种离子电导率测试装置,其特征在于:包括一电压/电流测试装置和一测试电极;所述测试电极包括一块体基底,于所述块体基底上设有线性排列的四个通孔,四根铂丝分别插入四个通孔内,铂丝的上端处于块体基底外部,铂丝的下端处于块体基底内部,所述线性排列是指四根铂丝的轴线处于同一平面上,四根铂丝相互平行;所述铂丝下端端面与块体基底下表面的距离为0.1‑2mm之间,于所述铂丝下端端面与块体基底下表面之间的通孔内部填充有离子导体聚合物。
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