发明名称 |
一种上行随机接入的签名序列检测方法及装置 |
摘要 |
本发明涉及通信领域,公开了一种上行随机接入的签名序列检测方法及装置。本发明,根据ZC序列的功率延时谱,获取功率延时谱序列;删除功率延时谱序列中的干扰目标回波采样信号,将删除干扰目标回波采样信号后的功率延时谱序列中剩余的来自噪声背景的采样信号进行求和,并将所得到的和作为噪声功率;获取噪声功率门限因子;根据噪声功率及噪声功率门限因子,获取进行签名序列检测的门限,并利用门限进行峰值搜索。本发明实施方式采用基于自动平均删除的噪声功率的估计方法,使得即使在签名序列信号较弱及较多个签名序列信号同时出现的情况下,仍可获得精确的检测效果。 |
申请公布号 |
CN105764153A |
申请公布日期 |
2016.07.13 |
申请号 |
CN201410814089.5 |
申请日期 |
2014.12.19 |
申请人 |
联芯科技有限公司 |
发明人 |
莫建林 |
分类号 |
H04W74/08(2009.01)I |
主分类号 |
H04W74/08(2009.01)I |
代理机构 |
上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 |
代理人 |
成丽杰 |
主权项 |
一种上行随机接入的签名序列检测方法,其特征在于,包含以下步骤:获取功率延时谱序列{z<sub>nca</sub>(τ<sub>i</sub>)},其中,0≤i≤L‑1,L表示ZC根序列的最大循环移位,Z<sub>nca</sub>(τ<sub>i</sub>)表示功率延时谱序列中第i个采样信号,τ<sub>i</sub>对应于第i个ZC基序列的循环移位;删除功率延时谱序列{z<sub>nca</sub>(τ<sub>i</sub>)}中的干扰目标回波采样信号,将删除所述干扰目标回波采样信号后的功率延时谱序列中剩余的来自噪声背景的采样信号进行求和,并将所得到和作为噪声功率γ<sub>n</sub>;获取噪声功率门限因子T<sub>r</sub>;根据所述噪声功率γ<sub>n</sub>及噪声功率门限因子T<sub>r</sub>,获取进行签名序列检测的门限T<sub>det</sub>,并利用所述门限T<sub>det</sub>进行峰值搜索。 |
地址 |
200233 上海市徐汇区钦江路333号41幢4楼 |