发明名称 |
一种布拉格反射镜增强InGaN电极、制备与利用 |
摘要 |
本发明涉及一种分布布拉格反射镜增强InGaN的电极,在衬底从下至上依次包括GaN层、厚度50nm‑5um,InGaN层、10nm‑1um,从InGaN层暴露出的部分GaN层上设有n电极;衬底另一面为DBR层;所述DBR层由高折射率材料和低折射率材料交替组合构成。GaN层厚度1‑5μm、InGaN层厚度100‑500nm;DBR层为8‑16周期,高折射率与低折射率的材料两者厚度分别为40‑70nm和60‑90nm。利用生长DBR布拉格反射镜在InGaN电极背面来增强光催化分解水效率的方法,实现了较低的暗电流和低开启电压。 |
申请公布号 |
CN103966621B |
申请公布日期 |
2016.07.13 |
申请号 |
CN201410026998.2 |
申请日期 |
2014.01.21 |
申请人 |
南京大学 |
发明人 |
张荣;陶涛;智婷;谢自力;刘斌;陈鹏;修向前;韩平;施毅;郑有炓 |
分类号 |
C25B1/04(2006.01)I;C25B11/04(2006.01)I;C23C16/44(2006.01)I;C23C16/40(2006.01)I |
主分类号 |
C25B1/04(2006.01)I |
代理机构 |
南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 |
代理人 |
陈建和 |
主权项 |
一种分布布拉格反射镜增强InGaN的电极,其特征是在衬底从下至上依次包括GaN层、厚度50nm‑5um,InGaN层、10nm‑1um,从InGaN层暴露出的部分GaN层上设有N电极;衬底另一面为DBR层;所述DBR层由高折射率材料和低折射率材料交替组合构成。 |
地址 |
210093 江苏省南京市鼓楼区汉口路22号 |