一种密码芯片光故障注入系统和攻击方法

摘要

本发明公开了一种密码芯片光故障注入系统，其包括带有Flash存储器的待测密码芯片、紫外线灯、对密码芯片中Flash储存器进行读写操作的PC及程序烧写器、紫外控制装置；其中紫外线灯放置在距芯片4cm‑6cm处进行照射。利用本发明的上述系统能够对密码芯片进行光故障注入攻击，这种攻击方法复杂度很低，不需要复杂的计算，仅通过128次比较就能获得AES算法的完整密钥，对于密码芯片的破译及安全防护均具有十分重要的意义。

主权项

一种密码芯片光故障注入系统，其特征在于：该系统包括如下装置：带有可反复擦写的Flash存储器并经解封的待测密码芯片、发射240nm‑260nm波长紫外线的紫外线灯、对密码芯片中Flash储存器进行读写操作的PC及程序烧写器、用于控制紫外线故障感应影响范围的紫外控制装置；其中紫外线灯放置在距芯片4cm‑6cm处进行照射。