用于硅后芯片验证的断言检测装置、方法、系统、芯片

摘要

本发明提出用于硅后芯片验证的断言检测装置、方法、系统、芯片，涉及超大规模集成电路设计验证领域，该装置包括断言触发逻辑模块，用于触发断言检测；综合模块，用于将所述硅后芯片中待验证RTL级综合为门级网表；反馈计数器电路模块，用于将所述断言触发逻辑模块产生的信号进行编码并生成输出编码；其中将所述断言触发逻辑模块插入到所述待验证RTL级中，通过所述综合模块获取包含所述断言触发逻辑模块的所述待验证RTL级的所述门级网表，为所述门级网表中的每一项所述断言触发逻辑模块插入所述反馈计数器电路模块，以便产生多个输出编码。

主权项

一种用于硅后芯片验证的断言检测装置，其特征在于，包括：断言触发逻辑模块，用于触发断言检测；综合模块，用于将所述硅后芯片中待验证RTL级综合为门级网表；反馈计数器电路模块，用于将所述断言触发逻辑模块产生的信号进行编码并生成输出编码；其中将所述断言触发逻辑模块插入到所述待验证RTL级中，通过所述综合模块获取包含所述断言触发逻辑模块的所述待验证RTL级的所述门级网表，为所述门级网表中的每一项所述断言触发逻辑模块插入所述反馈计数器电路模块，以便产生多个输出编码。