发明名称 一种用于光刻设备的自参考干涉对准信号处理系统
摘要 本发明提出一种用于光刻设备的自参考干涉对准信号处理系统,包括:激光光源模块,用于提供照明光束;光学模块,用于将来自标记衍射的光束进行光学处理,形成衍射光学信号;电子采集模块,用于将所述光学信号进行处理,获得光强信号;软件模块,用于对所述光强信号进行处理,并结合工件台位置数据,获得对准位置,消除光学噪声;其特征在于,所述电子采集模块中或者所述软件模块还包括一归一化处理单元。本发明综合利用两个光学通道中的光强信号,通过对对准信号进行归一化,提高对准信号的质量。消除或降低了照明光源的光强波动对信号的影响,提高了对准信号的质量。
申请公布号 CN103869628B 申请公布日期 2016.07.06
申请号 CN201210530461.0 申请日期 2012.12.11
申请人 上海微电子装备有限公司 发明人 李运锋
分类号 G03F7/20(2006.01)I;G03F9/00(2006.01)I 主分类号 G03F7/20(2006.01)I
代理机构 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 代理人 王光辉
主权项 一种用于光刻设备的自参考干涉对准信号处理系统,包括:激光光源模块,用于提供照明光束;光学模块,用于将来自标记衍射的光束进行光学处理,形成衍射光学信号;电子采集模块,用于将所述光学信号进行处理,获得光强信号;软件模块,用于对所述光强信号进行处理,并结合工件台位置数据,获得对准位置,消除光学噪声;其特征在于,所述电子采集模块中或者所述软件模块还包括一归一化处理单元,所述归一化处理单元的处理公式为:<img file="dest_path_image002.GIF" wi="109" he="45" />式中,<img file="dest_path_image004.GIF" wi="17" he="15" />为归一化后的对准信号,<img file="dest_path_image006.GIF" wi="28" he="20" />为只包含高级光通道的光强信号,<img file="dest_path_image008.GIF" wi="29" he="21" />为包含零级光和高级光通道的光强信号;<img file="dest_path_image010.GIF" wi="322" he="52" />;<img file="dest_path_image012.GIF" wi="325" he="52" />;其中,<img file="dest_path_image014.GIF" wi="12" he="11" />为对准匀速扫描速度,<img file="dest_path_image016.GIF" wi="8" he="11" />为扫描时间,<img file="dest_path_image018.GIF" wi="17" he="14" />为标记初始位置,<img file="dest_path_image020.GIF" wi="16" he="14" />为标记的周期,<img file="dest_path_image022.GIF" wi="16" he="11" />为衍射的级次,N为进入光学通道的总衍射级次,可通过照明波长、光学系统的数值孔径和光阑调整;<img file="dest_path_image024.GIF" wi="16" he="18" />为反射光中零级光光强,<img file="dest_path_image026.GIF" wi="15" he="18" />和<img file="dest_path_image028.GIF" wi="17" he="17" />为零级光在两个支路上的光强比例系数,且<img file="dest_path_image030.GIF" wi="70" he="20" />,<img file="dest_path_image032.GIF" wi="81" he="20" />;<img file="dest_path_image034.GIF" wi="17" he="19" />为第m级衍射光的光强,<img file="dest_path_image036.GIF" wi="22" he="15" />和<img file="dest_path_image038.GIF" wi="19" he="19" />为第m级衍射光A_1通道和A_2通道的光强比例系数,且<img file="dest_path_image040.GIF" wi="79" he="20" />和<img file="dest_path_image042.GIF" wi="54" he="21" />。
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