发明名称 |
一种测量亚微米至纳米粒度段粒度分布的激光粒度仪 |
摘要 |
一种测量亚微米至纳米粒度段粒度分布的激光粒度仪,包括激光光源装置、样品测试窗口(3)、散射信号接收装置(4)及与之电连接的信号处理系统(5),激光光源装置包括第一激光器(1)和第二激光器(2);散射信号接收装置是由(14)组光电探测器按照一定的规律排列,可以接收来自样品测试窗口中心固定角度的散射信号,该系统可以将来自样品测试窗口中心15°~130°的散射信号完整的接收并传输至计算机,计算机根据MIE散射理论可以计算出量程在0.05μm~1μm范围内所测样品的粒度分布图。 |
申请公布号 |
CN104075966B |
申请公布日期 |
2016.07.06 |
申请号 |
CN201410325383.X |
申请日期 |
2014.07.09 |
申请人 |
济南微纳颗粒仪器股份有限公司 |
发明人 |
任中京;于代军 |
分类号 |
G01N15/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01N15/02(2006.01)I |
代理机构 |
山东众成仁和律师事务所 37229 |
代理人 |
牟迅;何书红 |
主权项 |
一种测量亚微米至纳米粒度段粒度分布的激光粒度仪,包括激光光源装置、样品测试窗口(3)、散射信号接收装置(4)及与所述散射信号接收装置(4)电连接的信号处理系统(5),所述激光光源装置的出射光束为平行光束,其特征在于,所述激光光源装置包括第一激光器(1)和第二激光器(2);所述样品测试窗口(3)包括,一位于其中心区域的截面呈矩形的棱体空腔(20),至少三个透光面,至少两个涂黑面;所述透光面与涂黑面封闭成一截面呈多边形的棱体;所述空腔(20)的棱边与样品测试窗口(3)的棱边平行;所述至少三个透光面包括第一透光面(11)、第二透光面(12)、第三透光面(13),所述至少两个涂黑面包括第一涂黑面(14)、第二涂黑面(15),所述第一激光器(1)和第二激光器(2)的出射光束分别经第二透光面(12)、第三透光面(13)垂直入射,并且分别透过第一透光面(11)后被所述散射信号接收装置(4)接收。 |
地址 |
250000 山东省济南市高新区大学科技园北区F座东二单元 |