发明名称 |
坏像素校正方法以及使用该方法的装置 |
摘要 |
坏像素校正方法以及使用该方法的装置。本发明的实施例提出一种由处理单元执行的坏像素校正方法。读取一个帧中的一块,以及标示块中的每一像素为好像素、弱像素以及坏像素中的一个。检测块中所包含的弱像素对,其中包含二个标示为弱像素的像素,以及将弱像素对中的像素从弱像素更新标示为弱像素转变的坏像素。针对标示为坏像素及弱像素转变的坏像素的每一像素进行校正。 |
申请公布号 |
CN105744184A |
申请公布日期 |
2016.07.06 |
申请号 |
CN201510547136.9 |
申请日期 |
2015.08.31 |
申请人 |
上海兆芯集成电路有限公司 |
发明人 |
孔玮曼 |
分类号 |
H04N5/367(2011.01)I |
主分类号 |
H04N5/367(2011.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 11105 |
代理人 |
王珊珊 |
主权项 |
一种坏像素校正方法,由处理单元执行,包含:读取一帧中的一块;标示上述块中的每一像素为好像素、弱像素以及坏像素中的一个;检测上述块中包含的弱像素对,其中上述弱像素对包含二个标示为上述弱像素的像素;将上述弱像素对中的上述像素从上述弱像素更新标示为弱像素转变的坏像素;以及针对标示为上述坏像素及上述由弱像素转变的坏像素的每一上述像素进行校正。 |
地址 |
201203 上海市张江高科技园区金科路2537号301室 |