发明名称 主板测试组件及测试方法
摘要 本发明涉及电子技术领域,公开了一种主板测试组件及测试方法。本发明用于测试待测主板的卡座的性能;主板测试组件包含:转接板、主控设备、多功能仪表以及用于安装在卡座内的模拟卡;转接板包含第一转接部;第一转接部的一端连接于多功能仪表,另一端连接于模拟卡;主控设备连接于多功能仪表;主控设备还用于连接至待测主板;其中,当测试时,主控设备控制待测主板执行读卡命令;主控设备还控制多功能仪表通过模拟卡读取测试信号,并根据测试信号生成测试报告。本发明使得卡座性能的测试准确率高,通用性强,且提高了测试效率。
申请公布号 CN105738797A 申请公布日期 2016.07.06
申请号 CN201610200990.2 申请日期 2016.03.31
申请人 上海与德通讯技术有限公司 发明人 邵一祥
分类号 G01R31/28(2006.01)I;G01R1/073(2006.01)I 主分类号 G01R31/28(2006.01)I
代理机构 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 代理人 成丽杰
主权项 一种主板测试组件,其特征在于,用于测试待测主板的卡座的性能;所述主板测试组件包含:转接板、主控设备、多功能仪表以及用于安装在所述卡座内的模拟卡;所述转接板包含第一转接部;所述第一转接部的一端连接于所述多功能仪表,另一端连接于所述模拟卡;所述主控设备连接于所述多功能仪表;所述主控设备还用于连接至所述待测主板;其中,当测试时,所述主控设备控制所述待测主板执行读卡命令;所述主控设备还控制所述多功能仪表通过所述模拟卡读取测试信号,并根据所述测试信号生成测试报告。
地址 201506 上海市金山区通业路218号3幢2层
您可能感兴趣的专利