发明名称 |
一种带有折弯针体的测试针 |
摘要 |
本实用新型公开了一种带有折弯针体的测试针,包括针体及弹性设置于所述针体一端的测试头,所述测试头的测试杆与所述针体的套管滑动配合,所述针体的套管呈折弯设置,所述测试头的测试端圆周均布有偶数个测试部,相邻测试部之间形成V字形开槽,所述V字形开槽相互贯通。此结构设计的测试针,利于助焊剂的排出,使助焊剂或其他异物不易残留于测试体上,能够确保测试针稳定地接触于电路板上的测试点与零件脚,不易滑开,此外折弯设置的套管,使得测试头与测试针固定位呈一定夹角设置,进而满足倾斜焊点的测试。 |
申请公布号 |
CN205374529U |
申请公布日期 |
2016.07.06 |
申请号 |
CN201521041020.X |
申请日期 |
2015.12.14 |
申请人 |
深圳市新富城电子有限公司 |
发明人 |
钟兴彬 |
分类号 |
G01R1/067(2006.01)I |
主分类号 |
G01R1/067(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种带有折弯针体的测试针,其特征在于,包括针体及弹性设置于所述针体一端的测试头,所述测试头的测试杆与所述针体的套管滑动配合,所述针体的套管呈折弯设置,所述测试头的测试端圆周均布有偶数个测试部,相邻测试部之间形成V字形开槽,所述V字形开槽相互贯通。 |
地址 |
518000 广东省深圳市宝安区松岗镇大田洋工业区汉海达H栋10楼 |