发明名称 一种带有折弯针体的测试针
摘要 本实用新型公开了一种带有折弯针体的测试针,包括针体及弹性设置于所述针体一端的测试头,所述测试头的测试杆与所述针体的套管滑动配合,所述针体的套管呈折弯设置,所述测试头的测试端圆周均布有偶数个测试部,相邻测试部之间形成V字形开槽,所述V字形开槽相互贯通。此结构设计的测试针,利于助焊剂的排出,使助焊剂或其他异物不易残留于测试体上,能够确保测试针稳定地接触于电路板上的测试点与零件脚,不易滑开,此外折弯设置的套管,使得测试头与测试针固定位呈一定夹角设置,进而满足倾斜焊点的测试。
申请公布号 CN205374529U 申请公布日期 2016.07.06
申请号 CN201521041020.X 申请日期 2015.12.14
申请人 深圳市新富城电子有限公司 发明人 钟兴彬
分类号 G01R1/067(2006.01)I 主分类号 G01R1/067(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种带有折弯针体的测试针,其特征在于,包括针体及弹性设置于所述针体一端的测试头,所述测试头的测试杆与所述针体的套管滑动配合,所述针体的套管呈折弯设置,所述测试头的测试端圆周均布有偶数个测试部,相邻测试部之间形成V字形开槽,所述V字形开槽相互贯通。
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