| 发明名称 | 集成电路测试系统及测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种集成电路测试系统及测试方法，其中，所述集成电路测试系统包括：多台测试机及一台探针台，所述探针台与所述多台测试机信号连接；当探针台定位到一待测芯片后，所述探针台同时向所述多台测试机发送SOT信号。在此，采用了多台测试机，由此便能减少对待测芯片的检测周期，提高检测效率，降低检测成本。 | ||
| 申请公布号 | CN103777131B | 申请公布日期 | 2016.07.06 |
| 申请号 | CN201210413616.2 | 申请日期 | 2012.10.25 |
| 申请人 | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 | 发明人 | 顾良波;张志勇;余琨;王锦;叶建明;郝丹丹 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人 | 周耀君 |
| 主权项 | 一种集成电路测试系统，其特征在于，包括：多台测试机及一台探针台，所述探针台与所述多台测试机信号连接；当探针台定位到一待测芯片后，所述探针台同时向所述多台测试机发送SOT信号；还包括一分信号电路，所述分信号电路能够同时发送多个输出信号，所述探针台通过所述分信号电路与所述多台测试机信号连接。 | ||
| 地址 | 201203 上海市浦东新区张江郭守敬路351号2号楼2楼 | ||