发明名称 可排列集成电路芯片中的不可视区域的烧录方法
摘要 本发明是一种可排列集成电路(integrated circuit,简称IC)芯片中的不可视区域的烧录方法,应用至一烧录系统上。该烧录系统会先辨识IC芯片中多个不可视区域及可视区域的信息,并根据这些信息,将不可视区域重新设定及排列至IC芯片被读取的启始位置后,且将可视区域设定及排列至IC芯片的其余位置。然后,将一烧录档烧录至不可视区域中,该烧录档仅包括IC芯片所需执行的启动信息。如此,由于业者已先行对该集成电路芯片中的所有分区重新进行设定及排列,使得这些不可视区域之间,不会包括任何可视区域。因此,业者仅需根据该启动信息,生成烧录档,并烧录至这些不可视区域中即可。
申请公布号 CN103578547B 申请公布日期 2016.07.06
申请号 CN201210271521.1 申请日期 2012.07.31
申请人 英华达(南京)科技有限公司;英华达股份有限公司 发明人 费益平;严施勇
分类号 G11C16/10(2006.01)I 主分类号 G11C16/10(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 陈亮
主权项 一种可排列集成电路芯片中的不可视区域的烧录方法,应用至一烧录系统上,该烧录方法使该烧录系统执行下列步骤:辨识一集成电路芯片中多个不可视区域及多个可视区域的信息;根据这些信息,将这些不可视区域重新依序设定及排列至该集成电路芯片被读取的启始位置后,将这些可视区域设定及排列至该集成电路芯片的其余位置;及依这些不可视区域的类型与排列方式,将一烧录档烧录至这些不可视区域中,该烧录档仅包括对该集成电路芯片执行读写程序的一启动信息。
地址 211153 江苏省南京市江宁经济开发区将军大道133号