发明名称 光学分析器
摘要 本发明公开一种光学分析器。光学滤光器4被放置在使用深紫外LED作为光源的光源单元1与样品池2之间。光学滤光器4是短通滤光器,其允许位于深紫外区域内的主峰值的光通过,同时阻断位于可见区域内的不需要的峰值的光。不需要的峰值的光量上的时间变化比主峰值的大得多。光学滤光器4阻断其量随着时间相当大地变化的以前的光。因此,在检测器3上获得的检测信号上的源自LED的噪声和漂移的影响被显著地减小,因此,分析准确度被改善。
申请公布号 CN105738283A 申请公布日期 2016.07.06
申请号 CN201510990649.7 申请日期 2015.12.24
申请人 株式会社岛津制作所 发明人 长井悠佑
分类号 G01N21/01(2006.01)I 主分类号 G01N21/01(2006.01)I
代理机构 上海市华诚律师事务所 31210 代理人 徐乐乐
主权项 一种光学分析器,其特征在于,所述光学分析器用于通过将来自光源的光投入样品中或者投至样品上,并且响应于被投射的光,将从所述样品获得的光引入检测器中来分析目标样品,其中:发光半导体装置被用作所述光源,并且光学滤光器被设置在从所述光源至所述检测器的光路中,所述光学滤光器阻断在所述光源的发射光谱中波长比具有最大强度的峰值的波长长的波长范围内的光、波长比最大强度的峰值的所述波长短的波长范围内的光或者波长比所述最大强度的峰值的所述波长长和短的波长范围内的光,并且每一个波长范围包括在其处的光量上的时间变化比在所述最大强度的峰值处的大的峰值。
地址 日本京都府京都市中京区西之京桑原町1番地