发明名称 |
一种串联电抗器匝间缺陷的检测系统及方法 |
摘要 |
本发明提供了一种串联电抗器匝间缺陷的检测系统,属于电器设备检测技术领域。所述系统包括:并联在待测电抗器两端的局部放电检测子系统和匝间过电压震荡检测子系统,局部放电检测子系统包括由变频电源组成的并联谐振回路,并联谐振电路用于为待测电抗器提供变频电压并检测待测电抗器的匝间电压波形变化,匝间过电压震荡检测子系统包括直流高压发生器和串联震荡回路,直流高压发生器通过串联震荡回路在为待测电抗器提供震荡电压。本发明填补了目前的电抗器设备的交接和测试规程中对匝间绝缘性能的空白,能够有效避免因匝间绝缘破坏而引发的电抗器短路起火的事故,有利于提高电网安全稳定运行水平,提升防范系统事故的能力,从而减少事故引起的直接和间接经济损失。 |
申请公布号 |
CN105738776A |
申请公布日期 |
2016.07.06 |
申请号 |
CN201410741092.9 |
申请日期 |
2014.12.08 |
申请人 |
华北电力科学研究院有限责任公司;国家电网公司 |
发明人 |
郭绍伟;马继先;龙凯华;蔡巍;孙云生;马鑫晟;李志刚;郝震;杨大伟;毛婷;刘少宇 |
分类号 |
G01R31/12(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/12(2006.01)I |
代理机构 |
北京三友知识产权代理有限公司 11127 |
代理人 |
汤在彦 |
主权项 |
一种串联电抗器匝间缺陷的检测系统,其特征在于,包括:并联在待测电抗器两端的局部放电检测子系统和匝间过电压震荡检测子系统,所述局部放电检测子系统包括由变频电源组成的并联谐振回路,所述并联谐振电路用于为所述待测电抗器提供变频电压并检测所述待测电抗器电压波形变化,所述匝间过电压震荡检测子系统包括直流高压发生器和串联震荡回路,所述直流高压发生器通过所述串联震荡回路在为所述待测电抗器提供震荡电压。 |
地址 |
100045 北京市西城区复兴门外地藏庵南巷一号 |