发明名称 一种纳米线及阵列的形成方法
摘要 本发明提供一种纳米线的形成方法,包括步骤:提供半导体衬底,所述衬底上具有硬掩膜;刻蚀步骤与钝化步骤交替进行,以形成糖葫芦形貌,其中,钝化步骤包括:进行氧化,以形成钝化层;去除半导体衬底表面的钝化层;而后,氧化糖葫芦形貌并进行释放,以形成纳米线。本发明中,进行钝化步骤,以在每次刻蚀完成后,在已形成的糖葫芦形貌的侧壁上形成钝化层,这样,在下一刻蚀周期保护已形成的糖葫芦形貌的侧壁,并减少聚合物的产生,工艺造价低且简单易行。
申请公布号 CN104609360B 申请公布日期 2016.06.29
申请号 CN201310542253.7 申请日期 2013.11.05
申请人 中国科学院微电子研究所 发明人 洪培真;马小龙;殷华湘;徐秋霞;李俊峰;赵超
分类号 B81C1/00(2006.01)I;B82Y40/00(2011.01)I 主分类号 B81C1/00(2006.01)I
代理机构 北京维澳专利代理有限公司 11252 代理人 王立民;吉海莲
主权项 一种纳米线的形成方法,其特征在于,包括步骤:提供半导体衬底,所述衬底上具有硬掩膜;刻蚀步骤与钝化步骤交替进行,以形成糖葫芦形貌,其中,钝化步骤包括:进行氧化,以形成钝化层;去除半导体衬底表面的钝化层;氧化糖葫芦形貌并进行释放,以形成纳米线;所述刻蚀步骤包括:用等离子体进行各向异性刻蚀;进行各向同性刻蚀;所述衬底为Si衬底,用HBr/Cl<sub>2</sub>/O<sub>2</sub>等离子体进行各向异性刻蚀。
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