发明名称 | 一种基于双缝干涉的连续激光波长测量实验仪 | ||
摘要 | 本实用新型公开了一种基于双缝干涉的连续激光波长测量实验仪,该实验仪包括光学元件固定架集成底板、光源、双缝元件法兰盘及可移动光电探测单元;光源、双缝元件法兰盘和可移动光电探测单元固定设于光学元件固定架集成底板上;双缝元件法兰盘上设有双狭缝;可移动光电探测单元包括光电探测器固定滑块;光电探测器固定滑块可左右滑动地设于光学元件固定架集成底板上;光电探测固定滑块一侧设有狭缝,光电探测固定滑块另一侧、对应狭缝位置处设有光电探测器;光源的出射光依次通过双缝元件法兰盘的双狭缝、光电探测固定滑块的狭缝入射光电探测器。采用本实用新型实验仪,能够直观看到实验仪的内部结构,有效掌握杨氏双缝实验测量激光波长的原理和方法。 | ||
申请公布号 | CN205352560U | 申请公布日期 | 2016.06.29 |
申请号 | CN201620068108.9 | 申请日期 | 2016.01.25 |
申请人 | 南京信息工程大学 | 发明人 | 裴世鑫;崔芬萍;李金花 |
分类号 | G01J9/02(2006.01)I | 主分类号 | G01J9/02(2006.01)I |
代理机构 | 南京汇盛专利商标事务所(普通合伙) 32238 | 代理人 | 张立荣;裴咏萍 |
主权项 | 一种基于双缝干涉的连续激光波长测量实验仪,其特征在于:所述实验仪包括光学元件固定架集成底板、光源、双缝元件法兰盘及可移动光电探测单元;所述光源、双缝元件法兰盘和可移动光电探测单元固定设于所述光学元件固定架集成底板上;所述双缝元件法兰盘上设有双狭缝;所述可移动光电探测单元包括光电探测器固定滑块;所述光电探测器固定滑块可左右滑动地设于所述光学元件固定架集成底板上;所述光电探测固定滑块一侧设有狭缝,光电探测固定滑块另一侧、对应狭缝位置处设有光电探测器;所述光源的出射光依次通过所述双缝元件法兰盘的双狭缝、光电探测固定滑块的狭缝入射光电探测器。 | ||
地址 | 210044 江苏省南京市宁六路219号 |