一种芯片漏电流测试系统

摘要

本发明实施例公开了一种芯片漏电流测试系统，包括：测试装置和测试主机，测试主机通过通信接口与测试装置连接，测试装置通过测试接口与待测芯片连接；测试装置包括漏电流采集电路、微控制器和电源电路，电源模块为测试装置提供工作电压，电流采集电路检测待测芯片的引脚的漏电流，并将漏电流进行放大滤波处理和数字化处理生成数字信号，微控制器根据预置的参考值和数字信号的比较结果判断测试芯片的引脚的漏电流测试是否通过，将测试结果存储至本地，测试主机读取测试结果并根据测试结果生成测试报告。采用本发明能提高测试效率。

主权项

一种芯片漏电流测试系统，其特征在于，包括：测试装置和测试主机，所述测试主机通过通信接口与所述测试装置连接，所述测试装置通过测试接口与待测芯片连接；所述测试装置具有至少一个测试接口；所述测试装置包括漏电流采集电路、微控制器和电源电路，所述电源模块为所述测试装置提供工作电压；所述测试主机通过所述通信接口向所述微控制器发送携带测试参数的测试命令，所述测试参数包括待测引脚、所述待测引脚上加载的电压值、测试周期和参考值；所述微控制器接收到所述测试命令，根据所述测试参数对所述待测芯片的所述待测引脚进行测试；所述漏电流采集电路检测所述待测引脚的漏电流，并将所述漏电流进行放大滤波处理和数字化处理生成数字信号，所述微控制器根据所述参考值和所述数字信号的比较结果判断所述测试芯片的引脚的漏电流测试是否通过，将测试结果存储至本地；所述测试主机读取所述测试结果并根据所述测试结果生成测试报告。