一种对探测器的检测方法和装置

摘要

本发明实施例公开了一种对探测器的检测方法和装置，所述方法包括：将探测器中的任一晶体阵列确定为目标晶体阵列；获取所述目标晶体阵列的晶体位置散点图；在所述晶体位置散点图中，确定与预设的等高阈值对应的等高线；基于所述等高线，将所述晶体位置散点图分割，得到分割块；以位于同一行的分割块为单位，向与该行平行的方向投影，得到第一投影图，以及以位于同一列的分割块为单位，向与该列平行的方向投影，得到第二投影图；根据所述第一投影图和所述第二投影图，确定检测结果。本发明采用客观有效的定量的数据分析来对探测器进行检测，得出的检测结果准确率高，为工作人员对探测器的设计提供参考。

主权项

一种对探测器的检测方法，其特征在于，所述方法包括：将探测器中的任一晶体阵列确定为目标晶体阵列；获取所述目标晶体阵列的晶体位置散点图；在所述晶体位置散点图中，确定与预设的等高阈值对应的等高线；基于所述等高线，将所述晶体位置散点图分割，得到分割块；以位于同一行的分割块为单位，向与该行平行的方向投影，得到第一投影图，以及以位于同一列的分割块为单位，向与该列平行的方向投影，得到第二投影图；根据所述第一投影图和所述第二投影图，确定检测结果；所述在所述晶体位置散点图中，确定与预设的等高阈值对应的等高线，包括：获取所述晶体位置散点图的最大值和最小值；将所述最大值和最小值之间的数值段进行等差划分，得到等高阈值；确定与所述等高阈值对应的等高线。