发明名称 光学布置、尤其是等离子体光源或EUV光刻设备
摘要 本发明涉及光学组件,尤其是等离子体光源(1′)或EUV光刻系统,包含:壳体(2),其包围内壳空间(3);真空生成单元,用于在上述壳体(2)中产生真空;至少一个表面(13),布置在所述内壳空间(3)中;清洁装置(15),用于移除沉积在所述表面(13)上的污染物质(14);以及观察装置(25),用于观察所述表面(13),其中,所述观察装置(25)具有能够朝着所述表面(13)取向的观察光学单元(26)。所述清洁装置(15)设计为通过释放CO<sub>2</sub>颗粒(17)形式的CO<sub>2</sub>移除沉积的污染物质(14)。
申请公布号 CN105723282A 申请公布日期 2016.06.29
申请号 CN201480062219.2 申请日期 2014.08.18
申请人 卡尔蔡司SMT有限责任公司 发明人 M.贝克尔;U.米勒;O.阿普
分类号 G03F7/20(2006.01)I;B08B7/00(2006.01)I;B24C1/00(2006.01)I;B24C7/00(2006.01)I;B24C11/00(2006.01)I;C01B31/22(2006.01)I;G01N21/88(2006.01)I;G21K1/06(2006.01)I;H01J65/04(2006.01)I;H05G2/00(2006.01)I;G02B27/00(2006.01)I;G01N21/94(2006.01)I 主分类号 G03F7/20(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 陈钘;张邦帅
主权项 光学布置,尤其是等离子体光源(1′)或EUV光刻设备(1″),具有壳体(2),其包围内壳空间(3),真空生成单元(12),用于在所述壳体(2)中产生真空,至少一个表面(13),其布置在所述内壳空间(3)中,以及清洁装置(15),用于移除沉积在所述表面(13)上的污染物质(14),所述清洁装置(15)设计为通过释放CO<sub>2</sub>颗粒(17)形式的CO<sub>2</sub>来移除沉积的污染物质(14),以及监控装置(25),用于监控所述表面(13),所述监控装置(25)具有能够被引导至所述表面(13)上的监控光学系统(26)。
地址 德国上科亨