发明名称 |
一种焦平面探测器的互联结构 |
摘要 |
本实用新型提供了一种焦平面探测器的互联结构,包括以阵列形式设在光敏材料面及读出电路面上的互联单元、相邻单元,其中:在光敏材料面上的互联单元与相邻单元之间以垂直向位设置;在读出电路面上的互联单元及相邻单元分别以错位对应光敏材料面上的互联单元及相邻单元设置,使得光敏材料面上的互联单元与读出电路面上的互联单元耦合成交叉状,同时光敏材料面上的相邻单元与读出电路面上的相邻单元也耦合成交叉状,藉由前述构造,解决了倒装焊互联对位困难且会产生滑移互联不通,或互联错位的技术问题,达成了提升对位精度、单元之间不易错连以及降低压焊压力和压焊所造成的材料浪费的良好效果。 |
申请公布号 |
CN205355039U |
申请公布日期 |
2016.06.29 |
申请号 |
CN201521061122.8 |
申请日期 |
2015.12.17 |
申请人 |
武汉高芯科技有限公司 |
发明人 |
黄立;金迎春;周文洪;刘斌;姚柏文;汪良衡;陈世锐;戴俊碧 |
分类号 |
H01L23/48(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/48(2006.01)I |
代理机构 |
北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 |
代理人 |
程殿军;张瑾 |
主权项 |
一种焦平面探测器的互联结构,包括以阵列形式设在光敏材料面及读出电路面上的互联单元、相邻单元,其特征在于:在光敏材料面上的互联单元与相邻单元之间以垂直向位设置;在读出电路面上的互联单元及相邻单元分别以错位对应光敏材料面上的互联单元及相邻单元设置,使得光敏材料面上的互联单元与读出电路面上的互联单元耦合成十字交叉状,同时光敏材料面上的相邻单元与读出电路面上的相邻单元也耦合成十字交叉状。 |
地址 |
430205 湖北省武汉市东湖开发区黄龙山南路6号2号楼 |