| 发明名称 | 孔成像系统 | ||
| 摘要 | 一种孔成像系统，包含光检测器配置以及被配置为把源于孔表面上的第一图像区的图像光传输给光检测器的第一孔表面成像装置。光检测器配置包含在朝向与孔的轴向横断的方向的平面中弯曲的第一弯曲光检测器装置。第一弯曲光检测器装置包含沿与孔的轴向横断的方向接收图像光的第一成像阵列。 | ||
| 申请公布号 | CN105717628A | 申请公布日期 | 2016.06.29 |
| 申请号 | CN201510822243.8 | 申请日期 | 2015.11.24 |
| 申请人 | 株式会社三丰 | 发明人 | J.L.谢弗 |
| 分类号 | G02B23/26(2006.01)I;G01B11/12(2006.01)I;G01N21/954(2006.01)I | 主分类号 | G02B23/26(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 邸万奎 |
| 主权项 | 一种孔成像系统，包含：光检测器配置；以及第一孔表面成像装置，被配置为把源于孔表面上的第一图像区的图像光传输给光检测器配置，其中，光检测器配置包含在朝向与孔的轴向横断的方向的平面中弯曲的第一弯曲光检测器装置；以及第一弯曲光检测器装置至少包含沿与所述轴向横断的方向接收图像光的第一成像阵列。 | ||
| 地址 | 日本神奈川县 | ||