发明名称 自动分析装置的控制方法
摘要 本发明实现自动分析装置的控制方法,即便在使检测体的处理高速化的情况下,也能够确保吸嘴的充分清洗,能够抑制分析精度下降。当判断为没有试样的剩余分析项目时,进行第n次的试样分注量是否小于分注量阈值的判定(步骤S4、S6)。当第n次的试样分注量小于分注量阈值时,进行所有第1~n-1次的试样分注量是否小于分注量阈值的判定(步骤S8),选择清洗模式(W3)或(W4)(步骤S11、S12)。在步骤(S6)中第n次的试样分注量为分注量阈值以上时,进行所有第1~n-1次的试样分注量是否小于分注量阈值的判定(步骤S7),选择清洗模式(W1)或(W2)(步骤S9、S10)。
申请公布号 CN104508495B 申请公布日期 2016.06.29
申请号 CN201380040386.2 申请日期 2013.07.25
申请人 株式会社日立高新技术 发明人 安居晃启;时枝仁;折桥敏秀;斋藤佳明;铃木直人
分类号 G01N35/10(2006.01)I 主分类号 G01N35/10(2006.01)I
代理机构 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人 丁文蕴;金成哲
主权项 一种自动分析装置的控制方法,该自动分析装置具备:试样分注机构,具有对收纳于试样容器的试样进行吸引并向反应容器排出的试样吸嘴;试剂分注机构,吸引收纳于试剂容器的试剂并向反应容器排出;清洗机构,利用清洗水清洗上述试样分注吸嘴;分析部,分析收纳于上述反应容器的试样;以及控制器,按照一定的动作周期控制上述试样分注机构、上述试剂分注机构、上述清洗机构及上述分析部的动作,该自动分析装置的控制方法的特征在于,当将N设为2以上的整数时,在从同一试样进行N次试样吸引的情况下,根据上述试样分注吸嘴的1~N-1次为止的最大试样吸引量和第N次的上述试样分注吸嘴的试样吸引量,设定由上述清洗机构执行的上述试样分注吸嘴的清洗次数及清洗时机,控制上述试样分注吸嘴的清洗动作,就上述控制器而言,判定上述试样分注吸嘴的1~N-1次为止的最大试样吸引量和第N次的上述试样分注吸嘴的试样吸引量是否为一定的阈值以上,当上述试样分注吸嘴的1~N-1次为止的试样吸引量以及第N次的上述试样分注吸嘴的试样吸引量小于一定的阈值时,在与上述第N次的试样分注吸嘴吸引并排出试样的同一动作周期内,由上述清洗机构进行一次上述试样分注吸嘴的清洗,当上述试样分注吸嘴的第N次的上述试样分注吸嘴的试样吸引量为上述一定的阈值以上时,在上述第N次的试样分注吸嘴吸引并排出试样的动作周期的下一个动作周期以后,由上述清洗机构进行多次上述试样分注吸嘴的清洗,就上述控制器而言,当上述试样分注吸嘴的第N次的上述试样分注吸嘴的试样吸引量小于上述一定的阈值且上述试样分注吸嘴的第1~N-1次为止的最大试样吸引量为上述一定的阈值以上时,在上述第N次的试样分注吸嘴吸引并排出试样的动作周期及下一个动作周期中,由上述清洗机构进行多次上述试样分注吸嘴的清洗,在上述第1~N-1次的试样分注吸嘴吸引并排出试样的动作周期中,不进行上述试样分注吸嘴的清洗。
地址 日本东京都