发明名称 三重四极型质量分析装置
摘要 对各元件进行配置,使得离子源(11)、第一离子透镜(12)、前级四极滤质器(13)的直线状的离子光轴(C1)与碰撞单元(14)内的离子导向器(15)、后级四极滤质器(18)的直线状的离子光轴(C2)在前级四极滤质器与碰撞单元之间的空间内以规定的角度倾斜地交叉。由离子源产生的亚稳定状态的He分子(He*)即使通过前级四极滤质器,也到达不了碰撞单元的出口而被去除。另一方面,通过前级四极滤质器的前体离子在由入口侧离子透镜(16)形成的直流电场的作用下沿着折线状的离子光轴弯转,被高效地导入到碰撞单元。不使用特殊形状、构造的离子光学元件就能够可靠地去除成为噪声的原因的He*。
申请公布号 CN103650101B 申请公布日期 2016.06.29
申请号 CN201180071986.6 申请日期 2011.06.28
申请人 株式会社岛津制作所 发明人 下村学
分类号 H01J49/06(2006.01)I;G01N27/62(2006.01)I;H01J49/42(2006.01)I 主分类号 H01J49/06(2006.01)I
代理机构 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人 刘新宇
主权项 一种三重四极型质量分析装置,具备:离子源,其将试样成分离子化;前级四极滤质器,其在由该离子源生成的各种离子中筛选具有特定的质量电荷比的离子来作为前体离子;碰撞单元,其内部配设有通过高频电场使离子一边会聚一边输送的离子导向器,该碰撞单元用于通过使上述前体离子与规定气体碰撞而使该离子分裂;后级四极滤质器,其在通过上述前体离子的分裂而生成的各种产物离子中筛选具有特定的质量电荷比的离子;以及检测器,其对由该后级四极滤质器筛选出的产物离子进行检测,上述三重四极型质量分析装置的特征在于,对上述前级四极滤质器、上述离子导向器以及上述后级四极滤质器进行配置,使得上述前级四极滤质器中的直线状的离子光轴与上述离子导向器中的直线状的离子光轴在上述前级四极滤质器与上述碰撞单元之间的空间内倾斜地交叉而成为折线状,并使得该离子导向器中的直线状的离子光轴与上述后级四极滤质器中的直线状的离子光轴成为一条直线状,上述三重四极型质量分析装置还具备电压施加单元,该电压施加单元对设置于上述碰撞单元的入口处的离子透镜施加直流电压,以形成使通过上述前级四极滤质器而来的离子沿着上述折线状的离子光轴弯转的直流电场。
地址 日本京都府
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